Microscópio eletrônico de varredura MEV SU7000 | HITACHI

Microscópio Eletrônico de Varredura Schottky de Ultra Alta Resolução SU7000
O MEV-FEG moderno exige não apenas alto desempenho, mas também uma série de funcionalidades essenciais. Entre elas, destacam-se a observação de áreas amplas, a análise in-situ, a pressão variável, a geração de imagens de alta resolução com baixas tensões de aceleração e a coleta simultânea de múltiplos sinais. Com isso, o SU7000 foi projetado para atender a todas essas necessidades, fornecendo informações aprimoradas para diversos campos da microscopia eletrônica.

O SU7000 se destaca pela sua habilidade em adquirir múltiplos sinais de forma rápida, o que atende a uma variedade de necessidades do SEM. Enquanto isso, ele permite a geração de imagens de amplos campos de visão e, simultaneamente, facilita a visualização de estruturas subnanométricas. Além disso, a incorporação de sistemas óticos e de detecção de elétrons avançados possibilita a captura simultânea de sinais de elétrons secundários e retroespalhados, o que melhora a eficiência da coleta de dados.